Продукт

Китайський виробник багатоточкового профілювача променів FSA500

Вимірювальний аналізатор для аналізу та вимірювання оптичних параметрів променів і сфокусованих плям.Він складається з блоку оптичного наведення, блоку оптичного ослаблення, блоку термообробки та блоку оптичного зображення.Він також оснащений можливостями аналізу програмного забезпечення та надає звіти про тестування.


  • модель:FSA500
  • Довжина хвилі:300-1100 нм
  • Потужність:Макс. 500 Вт
  • Бренд:КАРМАН ХАС
  • Деталі продукту

    Теги товарів

    Опис приладу:

    Вимірювальний аналізатор для аналізу та вимірювання оптичних параметрів променів і сфокусованих плям.Він складається з блоку оптичного наведення, блоку оптичного ослаблення, блоку термообробки та блоку оптичного зображення.Він також оснащений можливостями аналізу програмного забезпечення та надає звіти про тестування.

    Особливості приладу:

    (1) Динамічний аналіз різних показників (розподіл енергії, пікова потужність, еліптичність, М2, розмір плями) в межах діапазону глибини фокусування;

    (2) Широкий діапазон довжин хвиль від УФ до ІЧ (190 нм-1550 нм);

    (3) Багатоточкова, кількісна, проста в експлуатації;

    (4) Високий поріг пошкодження до середньої потужності 500 Вт;

    (5) Надвисока роздільна здатність до 2,2 мкм.

    Застосування приладу:

    Для вимірювання параметрів однопроменевого або багатопроменевого та фокусування променя.

    Специфікація приладу:

    Модель

    FSA500

    Довжина хвилі (нм)

    300-1100

    NA

    ≤0,13

    Діаметр плями положення вхідної зіниці(мм)

    ≤17

    Середня потужність(W)

    1-500

    Світлочутливий розмір (мм)

    5,7х4,3

    Вимірюваний діаметр плями (мм)

    0,02-4,3

    Частота кадрів (fps)

    14

    Роз'єм

    USB 3.0

    Застосування приладу:

    Діапазон довжин хвиль тестованого променя становить 300-1100 нм, діапазон середньої потужності променя становить 1-500 Вт, а діаметр сфокусованої плями, що підлягає вимірюванню, становить від мінімум 20 мкм до 4,3 мм.

    Під час використання користувач переміщує модуль або джерело світла, щоб знайти найкраще тестове положення, а потім використовує вбудоване програмне забезпечення системи для вимірювання й аналізу даних.Програмне забезпечення може відображати діаграму підгонки двовимірного або тривимірного розподілу інтенсивності поперечного перерізу світлової плями, а також може відображати кількісні дані, такі як розмір, еліптичність, відносне розташування та інтенсивність світлової плями в двох -розмірний напрямок.У той же час промінь М2 можна виміряти вручну.

    р

    Розмір структури

    j

  • Попередній:
  • далі:

  • Супутні товари